|
《DFT可测试性设计工程实践》 ● 课程背景 ◇测试是产品从研发走向生产的必经阶段,也是决定产品质量的重要环节,如何将测试工作开展的更全面、更仔细、更专业完善也是众多电子通信企业所追求的目标。 ◇建立可测试性设计是开发软硬件系统的关键，尤其是那些对工作可靠性要求高的系统。 ◇若没有可测试性设计，在产品正式使用之前就很难发现设计缺陷，而且工作中出现的故障也很难检测和诊断。 ◇采用可测试性设计可以增加系统的可测试性，提高产品质量，并减少产品投放市场的时间及测试费用。 ● 课程收益 学完本课程后，学员可获得： ▲深刻理解可测性设计(DFT)的基本思想和基本原理 ▲熟悉可测性设计(DFT)的基本业务流程 ▲全面掌握可测性设计(DFT)的设计方法 ▲有效构建可测性设计(DFT)的体系平台和货架技术 ● 课程大纲 1、可测性设计(DFT)概述 ◇何谓可靠性？ ◇可靠性管理与质量管理 ◇产品生命周期V模型 ◇电子信息产品测试所面临的问题 ◇什么是可测性设计(DFT) ◇思考：如何深刻理解可测性设计(DFT) ◇可测性的物理特征表述 ◇可测性设计(DFT)的效益分析 ◇可测性设计(DFT)基本要素 ◇ IPD模式下的DFT体系结构 ◇可测性设计(DFT)基本过程 ◇可测性设计(DFT)中常用术语及缩略语 2、可测性设计(DFT)需求 ◇ 整机研发测试的可测性(DFT)需求来源 ◇ 整机研发测试的可测性(DFT)需求 ◇ 单板软件研发测试的可测性(DFT)需求来源 ◇ 单板软件研发测试的可测性(DFT)需求 ◇ 单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求来源 ◇ 单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求 ◇ 单板生产测试的可测性(DFT)需求来源 ◇ 单板生产测试的抽象模型 ※思考：单板生产测试的目的是什么？ ◇ 单板生产测试路线 ◇ 单板生产工艺测试基本原理 ◇ 单板生产功能测试基本原理 ◇ 单板生产测试的可测性(DFT)需求 ※※讨论：本公司各产品适合的生产测试方案和路线是怎样的？ ◇ JTAG在生产测试中的应用 ◇ JTAG在生产测试中的可测性设计(DFT)需求 ◇ 单板维修可测性设计(DFT)需求 ※※思考：本公司生产维修有哪些诊断手段？ 3、可测性设计(DFT)基本方法 ◇ 输入输出通道设计——测试控制物理通道 ◇ 输入输出通道设计——外部测试命令集 ◇ 输入输出通道设计——测试控制管理 ◇ 输入输出通道设计——测试信息存储与输出 ◇ 输入输出通道设计——外部仪器输入输出接口 ◇ 内置数据源设计——业务数据源自动生成 ◇ 内置数据源设计——差错数据源自动生成 ◇ 内置数据源设计——容限/极限数据源自动生成 ◇ 内置数据源设计——故障数据源自动生成 ◇ 能控性设计——测试数据源的设置与启动 ◇ 能观性设计——系统配置状态监控 ◇ 能观性设计——系统业务状态监控 ◇ 能观性设计——单板运行状态监控 ◇ 能观性设计——系统资源状态监控 ◇ 能观性设计——系统其它状态监控 ◇ 案例解读 4、单板可测性设计(DFT)必须考虑的要素 ◇ 机械结构设计 ◇ 自检和自环设计 ◇ 工装夹具设计 ◇ 测试点设计 ◇ 芯片控制引脚设计 ◇ 边界扫描测试设计 ◇ EPLD/CPLD/FPGA设计 ◇ 如何设计以减少测试点 5、可测性设计(DFT)工程实施 ◇ 可测性设计(DFT)工程实施步骤 ◇ 可测性设计(DFT)工程实施障碍 ※交流与探讨：如何构建可测性设计(DFT)体系和货架技术 [本简介版权归老师所有，仅供合作伙伴与本机构业务合作使用，未经书面授权及同意，任何机构及个人不得向第三方透露]
| 
