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统计过程控制SPC 【通过数据分析，精确识别工艺的变差来源】 一、课程背景：在制造过程中，一般是通过检验活动剔除不合格品，显然这种方法是一种浪费，因为它允许将时间和材料投入到生产不合格产品的活动中。理想的方式是避免生产不合格产品，从而消除浪费。这种更有效的方法就是：预防。 SPC是一种借助数理统计方法的过程控制工具。它对生产过程进行监控，根据反馈信息及时发现过程变差的特殊原因，并采取措施将其消除，使过程维持在受控状态，以达到通过预防控制质量的目的。 二、课程目的：从分析过程变差入手，以基本的统计概念为先导，介绍统计过程控制的基本原理和实践；使学员认识为何SPC是持续改进的工具和在过程控制中的作用；如何使用SPC的原理来控制生产过程。 三、课程特色：结合客户的实际工艺特点，帮助学员选择合适的控制点和控制图；通过实践案例分析、练习及软件的运用，让学员轻松掌握课程的重点；更结合“小批量、多品种”的生产特点，向学员介绍如何运用SPC中的高级控制图，来识别过程变差的原因以及确定过程控制的重点。 四、参加人员：研发部门、技术部门、工程部门、生产部门、质量部门和供应链管理部门的管理层及工程师。 五、课程提纲：（1～2天） 1、过程控制与基本统计 过程控制系统的要素 基本统计概念：样本、总体、平均值、极差、标准差 正态分布的特点 2、过程变差的来源 变差原因：特殊原因与普通原因 生产过程的四种状态 控制图的基本形式 第一类错误和第二类错误、过度调整 控制界限vs. 规格限 3、应用控制图的流程 控制图的类型 应用控制图的流程 Xbar-R、P图及绘制步骤 练习：合理分组 案例：如何用Xbar-R识别特殊原因 练习：如何绘制Xbar-R控制图 短期（short-run）控制图的原理及绘制步骤【案例】 4、控制图的稳定状态的判定 控制图判定原理 不稳定状态的模式【失控的八个模式】 5、过程能力分析 过程能力指数Cp及评估标准 过程能力指数Cpk 设备能力指数Cmk 过程绩效指数Pp Cp与Pp的对比及应用及联合使用 练习：Cp、Cpk的计算 Cpk与不合格率的计算【计数值与计量值】 课程总结
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